電子產品在生產制造時，因設計不合理、原材料或工藝措施方面的原因引起產品的質量問題有兩類，*類是產品的性能參數(shù)不達標，生產的產品不符合使用要求；第二類是潛在的缺陷，這類缺陷不能用一般的測試手段發(fā)現(xiàn)，而需要在使用過程中逐漸地被暴露，如硅片表面污染、組織不穩(wěn)定、焊接空洞、芯片和管殼熱阻匹配不良等等。一般這種缺陷需要在元器件工作于額定功率和正常工作溫度下運行一千個小時左右才能全部被激活(暴露)。顯然，對每只元器件測試一千個小時是不現(xiàn)實的，所以需要對其施加熱應力和偏壓，例如進行高溫功率應力試驗，來加速這類缺陷的提早暴露。也就是給電子產品施加熱的、電的、機械的或多種綜合的外部應力，模擬嚴酷工作環(huán)境，消除加工應力和殘余溶劑等物質，使?jié)摲收咸崆俺霈F(xiàn)，盡快使產品通過失效浴盆特性初期階段，進入高性能的穩(wěn)定期。電子產品的失效曲。

 

    高溫老化房是針對高性能電子產品仿真出一種高溫、惡劣環(huán)境測試的設備，是提高產品穩(wěn)定性、可靠性的重要實驗設備。主要適用用于電子、LED、照明、PCB板、電子元器件、汽車零部件的檢測設備，為提高產品質量保駕護航。高溫老化房主體結構一般采用保溫板（雙面彩色鋼板，中間加保溫材料：聚氨酯或者保溫棉）在現(xiàn)場拼裝而成，房間尺寸均根據(jù)客戶要求設計。結構牢固，同時安裝方便快捷。在房間墻上，根據(jù)需要可設置觀察窗，方便在室外觀察到室內產品測試情況。在墻上還配有不同電壓的插座，以滿足產品老化測試時的需要。

 

    上器高溫老化房具有簡單的操作性能和可靠的設備性能，便捷操作的計測裝置，溫度控制器，采用先進的中文液晶顯示畫面觸摸屏，可進行各種復雜的程序設定，程序設定采用對話方式，操作簡單、迅速。可為用戶批量檢驗、檢測電子電工元器件、零配件或大型部件等提供一個模擬環(huán)境，為測試數(shù)據(jù)的準確性和一致性（可重復）提供*條件。